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표면분석 시스템 엔지니어 신입/경력 사원 모집

 

모집분야 : 표면분석 시스템 서비스 엔지니어

자격요건 : 학력 - 초대졸 이상

               경력 - 무관 (신입도 지원가능)

               성별 - 무관

고용형태 : 정규직 (수습기간협의)

우대사항 : 신소재/재료공학, 물리, 화학, 기계, 전기 전공

전형절차 : 1차 서류심사

               2차 면접

제출서류 : 이력서, 자기소개서, 학위증명서 

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 - PHI Quantes Brochure

 - Additional transition available from Cr x-ray source

 - Announcing PHI's new in situ Dual Gas Cluster Ion Beam GCIB and
   monatomic ion source for Quantes XPS instruments

 - IMEC - Use of Lab-based HAXPES to Eliminate the Effect of Ion Beam
   Damage at Interfaces in Depth Profiles

 - PHI Quantes with Dual Souce Ion gun

 - Analysis of buried interface in multilayer device structures with hard
   XPS HAXPES using a CrKa souce

 

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New LEIPS & REELS for PHI 5000 VersaProbe III


- LEIPS (Low Energy Inverse Photoemission Spectroscopy)
- REELS (Reflection Electron Enrgy Loss Spectroscopy
- Energy Diagram Evaulation of All Solid State Ba
- LEIPS Flyer
- Low Energy Inverse Photoelectron Spectroscopy LEIPS
- VersaProbe III LEIPS

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